Databáze patentů

FZU nabízí k využití svoje portfolio českých a mezinárodních patentů. Patentové přihlášky jsou připravovány ústavním patentovým zástupcem, který působí jako český i evropský zástupce. Licence k využití průmyslových práv je obvykle poskytována jako nevýhradní, ovšem na základě individuálních jednání jsou možné i jiné formy. Licenční ujednání jsou zprostředkována skupina Transferu znalosti a technologií.

  1. V. Rouček, J. Bulíř, J. Lančok, M. Novotný
    Apparatus for coating internal cavities of small cross section and large longitudinal dimensions using magnetron-sputtering method
  2. Z. Hubička, V. Straňák, J. Šmíd, J. Olejníček, M. Čada, P. Adámek, Š. Kment, A. Kromka
    Hybrid plasma nozzle with surface wave for driving highly reactive discharges
  3. L. Havlák, V. Jarý, J. Bárta, M. Nikl
    Phosphors (LicNadKeRbfCsg)(LahGdiLujYk)1-aEuaS2-b for solid-state light sources
  4. T. Mocek
    Device for one-step measuring a parameter of the laser beam quality M2
  5. P. Boháč, J. Tomáštík, K. Cvrk, V. Koula, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, M. Hrabovský
    Evaluation method of adhesion of the functional layer to the substrate using acoustic emission
  6. R.Škoda, J. Škarohlíd, I. Kratochvílová, A. Taylor, F. Fendrych
    Layer for zirconium alloys surface protection for applications in nuclear reactors.
  7. L. Havlák, V. Jarý, M. Nikl, J. Bárta
    Inorganic scintillators and phosphors based on ALnS2 (A = Na, K, Rb; Ln = La, Gd, Lu, Y) doped by Eu2+ with exception of KLuS2 and NaLaS2
  8. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, V. Koula, L. Jastrabík
    An adapter to the holder of specimens for scanning acoustic emission of solid materials
  9. P. Boháč, J. Tomáštík, K. Cvrk, V. Koula, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, M. Hrabovský
    Device for carrying out evaluation of adhesion of the functional layer
  10. P. Boháč, K. Cvrk, M. Veselský, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, V. Koula, M. Hrabovský, L. Jastrabík
    Kit for capture, transformation and digitization of acoustic emission during the scratch test of thin films
  11. I. Kratochvílová, F. Fendrych
    Polycrystalline diamond layer for protection of zirkonium alloys M5
  12. Z. Hubička, V. Straňák, J. Šmíd, J. Olejníček, M. Čada, P. Adámek, Š. Kment, A. Kromka
    Hybrid plasma nozzle with surface wave for exciting extremely reactive discharges
  13. P. Adámek, J. Olejníček, Z. Hubička, M. Čada, Š. Kment
    Control and monitoring software for diagnostics and measurement of efficiency of solar cells.
  14. D. Mandát, L. Nožka, M. Pech, M. Hrabovský
    Large area hydrophobic TiO2 layer full sky clouds cameras
  15. M. Pech, D. Mandát, P. Schovánek
    Mirror segment for SST – 1M
  16. J. Hejtmánek, D. Ševčík
    Complex waste heat recovery system of the combustion engine for the conversion of the exhaust gas heat into electrical energy.
  17. B. Rus, Martin Horáček, Jiří Thoma, Lucie Koubíková, Jack A. Naylon
    Damage detection module - Health monitoring of optical components
  18. B. Rus, M. Horáček, J. A. Naylon
    Temperature, humidity and water leak detection system
  19. B. Rus, D. Kramer
    LIDT test station (Laser Induced Damage Threshold)
  20. B. Rus, G. Kalinchenko
    Encode image technique - Artificially tailored metasurface materials for the telecommunication industry
  21. B. Rus, P. Bakule, S. Reyné, F. Giambruno, J. Nejdl
    Vacuum chamber suitable for Laser Printing
  22. B. Rus, P. Bakule
    Off-axis parabolic mirrors
  23. J. A. Naylon, F. Batysta, R. Antipenkov, J. Novák, J. Horáček, M. Horáček, Z. Hubka, R. Boge, T. Mazanec, B. Himmel, P. Bakule, B. Rus
    Pulse shape device - Waveform synthesizer
  24. F. Batysta, P. Bakule, R. Antipenkov, J.A. Nylon, R. Boge, J. Novák, T. Mazanec, B. Rus, D. Kramer, P. Strkula, Z. Hrubka, V. Šobr, L. Brabec
    L1 oscilator
  25. B. Rus, D. Snopek
    Motorized positioning system
  26. G. Korn, P. Bastl
    Foil Holder
  27. B. Rus, M. Fibrich, M. Horáček, J. Naylon
    Damage control system
  28. J. Hanuš, A. Richter, P. Rydlo, L. Heller
    Pressure and/or force sensor
  29. O. Churpita, A. Dejneka, V. Zablotskyy, Š. Kubinová, E. Syková
    Atmospheric plasma source, particularly for use in medicinal bioapplications
  30. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík, J. Adámek, J. Stöckel
    A method for measuring the ion distribution function in a low temperature plasma, a measuring system for implementing the method and the probe for measuring system
  31. L. Havlák, V. Jarý, M. Nikl, J. Bárta, P. Boháček
    Inorganic scintillator or phosphor based on KLuS2:Eu
  32. L. Havlák, V. Jarý, M. Nikl, J. Bárta, P. Boháček
    Inorganic scintillator based on KLuS2:Ce
  33. P. Straka, M. Smrž
    Stray modulation unit
  34. P. Straka, M. Smrž
    Dispersoscop
  35. R.Škoda, J. Škarohlíd, I. Kratochvílová, A. Taylor, F. Fendrych
    Surface protection of zirconium nuclear fuel tubes.
  36. M. Kocián, S. Kamba
    Phactor - device for measurements of dielectric loss tan($\delta$)
  37. R. Hříbal, O. Rezek, T. Ižák, E. Ukraintsev, B. Rezek
    System for simultaneous measurement of optical and electrical characteristics of samples of biological materials in solution
  38. B. Rezek, A. Kromka, O. Babčenko, J. Libertínová, J. P. Conde, V. Chu, T. Schmiedinger
    Microfluidic system for electrical measurements
  39. O. Churpita, A. Dejneka, V. Zablotskyy, Š. Kubinová, E. Syková
    Low-temperature plasma source, particularly for deactivation of bacteria
  40. P. Adámek, J. Olejníček, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment
    Solar Cell I-V Curve Measurement System
  41. Z. Hubička, M. Čada, P. Adámek
    Multifunctional substrate holder for plasma depositions of optical thin films
  42. P. Boháč, K. Cvrk, M. Veselský, J. Tomáštík, L. Jastrabík, V. Koula
    Laboratory equipment for adhesion testing of thin films to substrates using acoustic emission record for evaluation
  43. D. Vokoun, M. Beleggia
    Quiet magnetic velcro fastenner
  44. P. Boháč, K. Cvrk, M. Veselský, J. Tomáštík, L. Jastrabík, V. Koula
    A measuring extension on sample holder for diagnostic equipment allowing to scan acoustic emission during scratch test
  45. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, V. Koula
    The duralumin adapter to sample holder with an integrated sensor of acoustic emission generated by scratch test
  46. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, V. Koula
    Measuring head for nanotester NT600, which allows the scanning of acoustic emission with increased sensitivity
  47. P. Boháč, M. Dráb, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík
    Software utility “envelope”
  48. V. Jirásek, Š. Potocký, A. Sveshnikov
    GENERAL METHODOLOGY FOR HIGH TEMPERATURE PROCESSES OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY BY THE FINITE ELEMENT METHODS