Databáze patentů

FZU nabízí k využití svoje portfolio českých a mezinárodních patentů. Patentové přihlášky jsou připravovány ústavním patentovým zástupcem, který působí jako český i evropský zástupce. Licence k využití průmyslových práv je obvykle poskytována jako nevýhradní, ovšem na základě individuálních jednání jsou možné i jiné formy. Licenční ujednání jsou zprostředkována skupina Transferu znalosti a technologií.

  1. J. Hanuš, A. Richter, P. Rydlo, L. Heller
    Pressure and/or force sensor
  2. O. Churpita, A. Dejneka, V. Zablotskyy, Š. Kubinová, E. Syková
    Atmospheric plasma source, particularly for use in medicinal bioapplications
  3. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík, J. Adámek, J. Stöckel
    A method for measuring the ion distribution function in a low temperature plasma, a measuring system for implementing the method and the probe for measuring system
  4. L. Havlák, V. Jarý, M. Nikl, J. Bárta, P. Boháček
    Inorganic scintillator or phosphor based on KLuS2:Eu
  5. L. Havlák, V. Jarý, M. Nikl, J. Bárta, P. Boháček
    Inorganic scintillator based on KLuS2:Ce
  6. P. Straka, M. Smrž
    Stray modulation unit
  7. P. Straka, M. Smrž
    Dispersoscop
  8. R.Škoda, J. Škarohlíd, I. Kratochvílová, A. Taylor, F. Fendrych
    Surface protection of zirconium nuclear fuel tubes.
  9. M. Kocián, S. Kamba
    Phactor - device for measurements of dielectric loss tan($\delta$)
  10. R. Hříbal, O. Rezek, T. Ižák, E. Ukraintsev, B. Rezek
    System for simultaneous measurement of optical and electrical characteristics of samples of biological materials in solution
  11. B. Rezek, A. Kromka, O. Babčenko, J. Libertínová, J. P. Conde, V. Chu, T. Schmiedinger
    Microfluidic system for electrical measurements
  12. O. Churpita, A. Dejneka, V. Zablotskyy, Š. Kubinová, E. Syková
    Low-temperature plasma source, particularly for deactivation of bacteria
  13. P. Adámek, J. Olejníček, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment
    Solar Cell I-V Curve Measurement System
  14. Z. Hubička, M. Čada, P. Adámek
    Multifunctional substrate holder for plasma depositions of optical thin films
  15. P. Boháč, K. Cvrk, M. Veselský, J. Tomáštík, L. Jastrabík, V. Koula
    Laboratory equipment for adhesion testing of thin films to substrates using acoustic emission record for evaluation
  16. D. Vokoun, M. Beleggia
    Quiet magnetic velcro fastenner
  17. P. Boháč, K. Cvrk, M. Veselský, J. Tomáštík, L. Jastrabík, V. Koula
    A measuring extension on sample holder for diagnostic equipment allowing to scan acoustic emission during scratch test
  18. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, V. Koula
    The duralumin adapter to sample holder with an integrated sensor of acoustic emission generated by scratch test
  19. P. Boháč, M. Veselský, K. Cvrk, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík, L. Jastrabík, V. Koula
    Measuring head for nanotester NT600, which allows the scanning of acoustic emission with increased sensitivity
  20. P. Boháč, M. Dráb, J. Tomáštík, R. Čtvrtlík
    Software utility “envelope”
  21. V. Jirásek, Š. Potocký, A. Sveshnikov
    GENERAL METHODOLOGY FOR HIGH TEMPERATURE PROCESSES OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY BY THE FINITE ELEMENT METHODS
  22. J. Wunderlich, T. Jungwirth, A. Irvine, J. Sinova
    Spin-polarised charge carrier device
  23. J. Bárta, V. Čuba, V. Múčka, M. Nikl, M. Pospíšil
    Process for preparing synthetic structures based on lutetium-aluminium garnet (LuAG))
  24. K. Kůsová, O. Cibulka, K. Dohnalová, K. Žídek, A. Fučíková, I. Pelant
    Method for the preparation of optically clear solution of silicon nanocrystals with short-wavelength luminescence
  25. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, P. Virostko, L. Jastrabík, J. Olejníček, V. Straňák, R. Hippler, H. T. Do
    Diagnostics method for time-resolved laser absorption spectroscopy in pulsed plasmas and measuring system for the implementation of this diagnostics method.
  26. J. Wunderlich, T. Jungwirth, J. Zemen, B. Gallagher, C. Chappert, D. Thibaut
    Method of controlling a magnetoresistive device using an electric field pulse
  27. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík, J. Adámek, J. Stöckel
    Diagnostics system for measurement of ion distribution function in low-temperature plasma and probe for diagnostics system
  28. O. Churpita, Z. Hubička, A. Dejneka, L. Jastrabík, V. Zablotskyy, E.Syková, Š. Kubinová
    Device for generation of low-temperature plasma with tunable density of ionized particles
  29. Z. Hubička, A. Dejneka, M. Čada, P. Adámek, L. Jastrabík, G. Suchaneck, J. Olejníček, Š. Kment, V. Straňák
    Plasma system developed for deposition of perovskite thin films
  30. P. Boháč, K. Cvrk, R. Čtvrtlík, V. Koula, Z. Hubička, M. Hrabovský, L. Jastrabík
    Equipment for resistance evaluation of layers and coatings using acoustic emission analysis of scratch test.
  31. M. Pech, D. Mandát, P. Schovánek, M. Palatka, J. Řídký, M. Hrabovský, P. Horváth
    Apparatus for analysis of night sky background light
  32. Z. Hubička, M. Čada, P. Kšírová, Jiří Šmíd, J. Olejníček, Š. Kment
    Linear diagnostic system of plasma deposition for large scale processes
  33. J. Šmíd, J. Olejníček, M. Čada, Š. Kment, V. Straňák, Z. Hubička, O. Babčenko, A. Kromka, Š. Potocký, P. Lukašík, A. Piják, J. Dolák, P. Martinek, J. Pitrun, Š. Rek, L. Konečný, G. Mareš, J. Štěpánek, J. Jakeš, Z. Křenek, M. Joštic
    Automatic system of mass flow control of working gasses in MW plasma system PLASMASTR02 with plasma jet channels.
  34. J. Holovský, Z. Remeš, A. Piják
    METHODOLOGY OF NOT DESTRUCTIVE DETERMINATION OF PHOSPHORUS CONCENTRATION PROFILE IN SI WAFERS
  35. J. Holovský, Z. Remeš, A. Piják
    METHODOLOGY OF NOT DESTRUCTIVE DETERMINATION OF BORON CONCENTRATION PROFILE IN SI WAFERS